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von David SayreTaschenbuch
EAN=ISBN-13: 978-3-662-14490-9 ISBN-10: 3-662-14490-5 Springer · 2013 |
Siehe auch: | ||
1988 | Gebundene Ausgabe | X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987 (Springer Series in Optical Sciences, Band 56) |