Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, Band 270)

von: Cor Claeys · Eddy Simoen Gebunden Details (Deutschland) (siehe auch: Kindle Ausgabe) Details (USA) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Großbritannien) (siehe auch: eBook (Kindle)) ISBN: 978-3-319-93924-7 ISBN-10: 3-319-93924-6 Springer · 2018