Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Circuits

von: Xiao Liu · Qiang Xu

Taschenbuch

EAN=ISBN-13: 978-3-319-00534-8

ISBN-10: 3-319-00534-0

Springer · 2013
Siehe auch:
2016TaschenbuchTrace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, Band 252)
2013Gebundene AusgabeTrace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, Band 252)