von Xiao LiuTaschenbuch Details (Deutschland) Details (USA) Details (Großbritannien) ISBN-13: 978-3-319-37594-6 ISBN-10: 3-319-37594-6 Springer · 2016 |
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2013 | Gebundene Ausgabe | Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, Band 252) |