Entwicklung von intelligenten miniaturisierten Sensoren zur 2D- und 3D-Vermessung für Anwendungen zur Qualitätssicherung und in der Oberflächenanalyse: Verbundprojekt 1995-1998, Abschlussbericht

von Klaus Beumler

Gebunden

ISBN-13: 978-3-89750-057-0

ISBN-10: 3-89750-057-4

VDI · 1998