von Peter PichlerTaschenbuch Details (Österreich/Deutschland/Schweiz)
ISBN: 978-3-7091-7204-9 ISBN-10: 3-7091-7204-7 Springer · 2012 |
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2004 | Gebundene Ausgabe | Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics) |