Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (NanoScience and Technology)

von Gerd Kaupp Taschenbuch Details (Deutschland) (siehe auch: Kindle Ausgabe) Details (USA) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Großbritannien) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Kanada) (siehe auch: eBook (Kindle)) ISBN-13: 978-3-642-06663-4 ISBN-10: 3-642-06663-1 Springer · 2010