von: Lok C. Lew Yan Voon · Morten WillatzenGebunden Details (Deutschland) Details (USA) Details (Großbritannien) ISBN: 978-3-540-92871-3 ISBN-10: 3-540-92871-5 Springer · 2009 |
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2010 | Taschenbuch | The k p Method: Electronic Properties of Semiconductors |