Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Springer Series in Solid-State Sciences (35), Band 35)
von
J. Bourgoin
Gebunden
Details (
Deutschland
)
ISBN: 978-3-540-11515-1
ISBN-10: 3-540-11515-3
Springer
· 1983
Siehe auch:
1983
Hardcover
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Springer Series in Solid-state Sciences)