Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis und Qualitätsüberwachung

von Titu-Marius I. Bajenescu Gebunden Details (Deutschland) ISBN: 978-3-527-34021-7 ISBN-10: 3-527-34021-1 Wiley-VCH · Januar 2019