Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP): Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D
von
Daniel Herrmann
Taschenbuch
Details (
Deutschland
)
ISBN-13: 978-3-406-70789-6
ISBN-10: 3-406-70789-0
C.H.Beck
· 2017
