Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, Band 65)

von: Sascha Sadewasser · Thilo Glatzel Gebunden Details (Deutschland) (siehe auch: Kindle Ausgabe) Details (USA) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Großbritannien) (siehe auch: eBook (Kindle)) Details (Kanada) (siehe auch: eBook (Kindle)) ISBN-13: 978-3-319-75686-8 ISBN-10: 3-319-75686-9 Springer · 2018