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von: Simone Carmignato · Wim Dewulf · Richard LeachGebunden Details (Deutschland) Details (United States) Details (Großbritannien) Details (Kanada) ISBN: 978-3-319-59571-9 ISBN-10: 3-319-59571-7 Springer · 2017 |
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2018 | Taschenbuch | Industrial X-Ray Computed Tomography |