von: Siamak Khorram · Cynthia F. van der Wiele · Frank H. Koch · Stacy A. C. Nelson · Matthew D. PottsGebunden Details (Deutschland) Details (USA) Details (Großbritannien) ISBN: 978-3-319-22559-3 ISBN-10: 3-319-22559-6 Springer · 2016 |
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2018 | Taschenbuch | Principles of Applied Remote Sensing |