von: Seizo Morita · Franz J. Giessibl · Ernst Meyer · Roland WiesendangerGebunden Details (Deutschland) Details (USA) Details (Großbritannien) Details (Kanada) EAN=ISBN-13: 978-3-319-15587-6 ISBN-10: 3-319-15587-3 Springer · 2015 |
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2010 | Paperback | Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 |
2009 | Gebundene Ausgabe | Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology, Band 2) |