Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization

Reliability

von: Sheldon Tan · Mehdi Tahoori · Taeyoung Kim · Shengcheng Wang · Zeyu Sun · Saman Kiamehr

Gebunden

ISBN: 978-3-030-26171-9

ISBN-10: 3-030-26171-9

Springer · 2019